电子产品快速瞬变脉冲群测试的失败原因和对策分析
本文先就电子产品快速瞬变脉冲群形成机理及相应的测试方法进行了简要介绍,然后综合其他研究者的成果及笔者的实践经验针对快速瞬变脉冲群对电子产品不同影响特点提出了相应的对策方案,以方便电子产品设计人员及电磁兼容对策工程师在实际工作中参考、验证、改进和完善.
电子产品 电磁兼容 快速瞬变脉冲群
朱文立
信息产业部电子第五研究所,广东广州,510610
国内会议
福建武夷山
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201-209
2006-10-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)