电子设备快速TAAF试验温度剖面研究及其应用

摘要：

电子设备加速试验剖面设的速率(针对温度应力).本文选取典型事例产品(×型机和税控加油机主板等),在可靠性试验和加速试验中进行温度响应测试,调查温度、温度变化率、温度持续时间等参数变化对样机的影响和效果,提出了快速TAAF试验的温度剖面.据此在多个产品上进行了试验,取得了较好的应用效果,为进一步开展强应力高加速试验研究奠定了良好技术基础.

关键词： 电子设备 可靠性 加速试验

作者: 丁以华 李劲

作者单位: 信息产业部电子第五研究所,广州市,510610

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会可靠性分会第十三届学术年会

会议地点: 福建武夷山

会议语种:中文

页码: 159-167

在线出版日期: 2006-10-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）