电路的故障定位

摘要：

本文从某电路的失效现象出发,通过电路的复测,电路版图和电路分析,电路的显微镜和扫描电镜EBIC观察分析,找到了失效位置,得出了输入管脚的PMOS管栅击穿的结论,对失效机理进行了推理.

关键词： 电路版图 故障定位 失效现象 可靠性分析 电路分析

作者: 李兴鸿 赵俊萍 赵春荣 董亚宁 史军 马明朗

作者单位: 中国航天时代电子公司可靠性物流中心可靠性部,北京,100076

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会可靠性分会第十三届学术年会

会议地点: 福建武夷山

会议语种:中文

页码: 89-91

在线出版日期: 2006-10-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）