厚膜电阻例行可靠性实验噪声特性研究

摘要：

本文通过厚膜电阻器例行可靠性实验中噪声测量和分析,与常规测量参数的对比,探讨了噪声用于厚膜电阻器例行可靠性实验表征的可行性.

关键词： 集成电路 厚膜电阻 噪声测量 可靠性分析

作者: 刘帅洪 仵建平 吴勇 杜磊

作者单位: 中国航天时代电子公司第771研究所,西安,710054 西安电子科技大学技术物理学院,西安,710071 西安电子科技大学微电子学院,西安,710071

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十四届全国混合集成电路学术会议

会议地点: 安徽黄山

会议语种:中文

页码: 429-433

在线出版日期: 2005-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）