KGD技术发展及其应用

摘要：

本文阐述了已知好芯片(KGD)保证的技术要求、方法、发展现状、国内KGD技术发展机遇与挑战,介绍了国内KGD可靠性保障技术研究情况及已形成裸芯片测试、老化筛选和评价技术的能力.

关键词： 集成电路 芯片模块 可靠性测试

作者: 黄云 恩云飞 师谦 罗宏伟

作者单位: 信息产业部电子第5研究所,电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室,广州,510610

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十四届全国混合集成电路学术会议

会议地点: 安徽黄山

会议语种:中文

页码: 378-383

在线出版日期: 2005-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）