电子产品高加速寿命试验技术与方法

摘要：

本文介绍了高加速寿命试验和高加速应力筛选试验的基本原理、特点、试验方法及试验步骤,对高加速寿命试验和高加速应力筛选试验的应用和前景进行了展望.

关键词： 电子产品 高加速寿命试验 高加速应力筛选试验 HASS 工作极限 损坏极限 应力

作者: 张树文 王剑 邬宁彪

作者单位: 江南计算技术研究所军用印制板质量检测中心

会议类型: 国内会议

会议名称: 2006春季国际PCB技术/信息论坛

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 359-369

在线出版日期: 2006-03-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）