低压铝电解电容器的开路失效机理

摘要：

本文总结了CD110—16V—10μF和CD11—25V—470μF低压铝电解电容器开路失效样品的分析结果。研究结果表明，导致低压铝电解电容器开路失效的原因是阳极引线导针腐蚀断裂使得电容器正极端引出线开路；而氯离子的电化学腐蚀作用是产生阳极引线导针腐蚀断裂和阳极引线导针与铝箔铆接部位的阳极铝箔粉碎状腐蚀断裂的根本原因。

关键词： 低压铝电解电容器 开路失效机理

作者: 王锡清

作者单位: 信息产业部电子五所(广州)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 嘉峪关

会议语种:中文

页码: 223-227

在线出版日期: 1999-09-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）