新兴的通用无夹具测试

摘要：

为了克服传统的测试技术与设备的局限,满足HDI测试要求,本文介绍通用无夹具测试技术,这种夹具的设计可以保证对每个测试图形都有一个以上探关进行测试.

关键词： 通用无夹具测试 连通性测试 高压测试

作者: 李海

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国西部地区第二届SMT学术研讨会

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 247-249

在线出版日期: 2001-04-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）