真空电子器件可靠性评价方法研究

摘要：

本文采用真空电子器件使用原材料及各生产工艺的可靠性数据，根据器件的失效模式和可靠性理论，运用数理统计的多元回归分析方法，找出影响基本失效率的排气、阴极、电子枪三个关键变量，得出定量评价此类器件固有可靠性的数学模型，并对表征可靠性水平的数学模型和模型验证进行讨论。这是对目前真空电子器件主要用寿命试验方法进行可靠性评价之外另一途径的尝试和探讨。

关键词： 真空电子器件 可靠性评价 多元回归分析法

作者: 苏振华 林江

作者单位: 信息产业部电子五所(广州)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 嘉峪关

会议语种:中文

页码: 194-198

在线出版日期: 1999-09-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）