工艺控制及功能测试的保障--HP5DX分层扫描系统

摘要：

该篇将对X光分层扫描技术作以简述。针对HP5DX在线实时检测中，对生产制造工艺过程中每一环节实施监控，改进工艺，提高产品装配质量，达到生产制造过程的最佳状态作以浅析。并将目检、ICT、AOI与X光检测系统作比较，来阐述对功能测试的功效。

关键词： 印制电路板 表面组装技术 波峰检测 焊点检测 X光分层扫描

作者: 李渭荣

作者单位: 西安市631研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 首届全国电子元器件应用技术研讨会

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 225～227

在线出版日期: 2000-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）