关键词： 厚膜集成电路 失效分析 银离子迁移
作者: 张宏文
作者单位: 四川仪表六厂
会议类型: 国内会议
会议名称: 第十二届全国混合集成电路学术会议
会议地点: 合肥
会议语种:中文
页码: 108-109
在线出版日期: 2001-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）