一种集成电路可靠性的综合模拟方法

摘要：

该文介绍了一种集成电路可靠性的综合模拟方法。将电路模拟分析中常用的蒙特卡罗分析方法应用于集成电路可靠性的模拟分析，得到了一种可以模拟多种失效机理的可靠性模拟软件。该软件只需要经过一次模拟就可以得到描述两种失效机理的失效率曲线和两种失效机理综合作用下的失效率曲线。

关键词： 集成电路 可靠性分析 综合模拟 失效机理

作者: 谭超元 钟征宇

作者单位: 信息产业部电子第五研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会可靠性分会第十届学术年会

会议地点: 大同

会议语种:中文

页码: 237～240

在线出版日期: 2000-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）