加强半导体器件失效分析，提高电子产品可靠性

摘要：

本文统计分析了引起半导体器件失效的一些主要失效原因，阐明了失效分析在提高半导体器件和电子产品质量与可靠性方面所发挥的重要作用。

关键词： 半导体器件失效分析 电子产品可靠性

作者: 马璇 李斌

作者单位: 航天总公司半导体器件失效分析中心 空军电讯工程学字基础部

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 嘉峪关

会议语种:中文

页码: 117-121

在线出版日期: 1999-09-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）