会议专题

半导体和集成电路内引线谐振频率试验方法

本文介绍了新型的半导体和集成电路内引线谐振频率试验法的原理、结构,研究了内引线谐振频率的影响因素。

半导体 集成电路 谐振频率试验

王蕴辉 吴文章

中国电子产品可靠性与环境试验研究所(广州)

国内会议

第八届全国可靠性物理学术讨论会

嘉峪关

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95-98

1999-09-21(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)