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2010中国电子学会可靠性分会第十五届可靠性学术年会
2010中国电子学会可靠性分会第十五届可靠性学术年会
总文献量: 85篇
会议类型: 国内会议
会议地点: 张家界
主办单位: 中国电子学会;广东省电子学会;广东省仪器仪表学会
会议日期: 2010-11-01
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汽车电磁环境分析与GB/T21437.2—2008标准测试技术探讨
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简析手工锡铅焊接
陈全寿
印制板组件动态特性分析与失效预测
任建峰 许劲飞
第三方检测实验室互联网在线业务模式探讨
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半导体级磷酸中痕量元素的动态反应池-电感耦合等离子体质谱分析
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可靠性试验评价技术及几个热点问题解决思路
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对系统可靠性工程的再认识
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硅膜厚度对SOI NMOS器件ESD特性的影响
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军用连接器在通信设备上的应用简介
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恒定加速度试验埋砂安装法的研究
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