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第三届电子产品可靠性与环境实验技术经验交流会
第三届电子产品可靠性与环境实验技术经验交流会
总文献量: 41篇
会议类型: 国内会议
会议地点: 陕西华阴
主办单位: 中国电子学会
会议日期: 2001-04-01
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元器件寿命试验与试验室环境
谢炜楷 周国凤
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