元器件寿命试验与试验室环境

摘要：

本文作者通过多年在试验室工作的体会,希望在此共同探讨试验室的外部环境对元器件寿命试验结果的影响,如试验室供电系统、试验室的环境温度以及试验过程所采用的设备性能等,以实例形式进行分析.

关键词： 环境温度 电源传导干扰 触点耐压 电子元器件 寿命试验

作者: 谢炜楷 周国凤

作者单位: 信息产业部电子五所质检中心

会议类型: 国内会议

会议名称: 第三届电子产品可靠性与环境实验技术经验交流会

会议地点: 陕西华阴

会议语种:中文

页码: 104-106

在线出版日期: 2001-04-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）