Automatic Generation of Sizing Static Models Based on Reluctance Networks for the Optimization of Electromagnetic Devices

会议类型: 国际会议

会议名称: 第十五届国际电磁场计算会议（15th Conference on the Computation of Electromagnetic Fields）

会议地点: 沈阳

会议语种:英文

页码: 214-215

在线出版日期: 2005-06-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）