A Formal Test Process Model Using Inheritance & Feedback Structures

会议类型: 国际会议

会议名称: The 8th International Conference for Young Computer Scientists

会议地点: 北京

会议语种:英文

页码: 203-209

在线出版日期: 2005-09-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）