A New Method to Measure Thermal Conductivity of Thin Electrically Insulating Films Deposited on Silicon Substrates by a Thermo-Reflectance Technique

会议类型: 国际会议

会议名称: 第七届亚洲热物性会议(Proceedings of the 7th Asian Thermophysical Properties Conference)

会议地点: 合肥

会议语种:英文

在线出版日期: 2004-08-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）