单晶二维硫化钼的折射率高置信度测量
(0) 单层二硫化铝，作为一种二维半导体，具有直接带隙，同时还拥有谷选择圆二相色性等性质，吸引了很多关注。但是它的许多基本性质，例如折射率，由于存在一些测量上的困难，还没有被仔细研究。在本研究工作中，我们通过化学气相沉积的方法在SiO2/Si衬底上合成了高结晶质量的单层硫化铝，并发展了一种测量其光学衬度谱的方法。通过这一系列衬度谱，我们推导出单层硫化铝在400纳米至750纳米波段内的复折射率，并比较了它们与块材硫化钼折射率的区别。我们提供的方法，对于小面积的二维材料十分有效。除此之外，我们利用得到的折射率计算了单层硫化钼在不同厚度氧化硅及不同照明光波长下的衬度，为进一步的基础研究和器件制备提供了便利。
单层二硫化钼 化学气相沉积 光学常数 折射率 空间分辨反射谱
张晖 马耀光 万逸 荣新 谢子昂 王维 戴伦
北京大学物理学院介观物理国家重点实验室,北京100871;量子物质科学协同创新中心,北京100871 北京大学物理学院介观物理国家重点实验室,北京100871
国际会议
广州
中文
175-182
2015-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）