Investigating the neurite-extracellular matrix interactions with an atomic force-total internal reflection fluorescence microscope system

关键词： cell-substrate adhesion atomic force microscope peel test

作者: Haipei Liu Yuan Lin

作者单位: Department of Mechanical Engineering,The University of Hong Kong,Hong Kong SAR,China

会议类型: 国际会议

会议名称: 第13届国际断裂大会(ICF2013)

会议地点: 北京

会议语种:英文

页码: 1-1

在线出版日期: 2013-06-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）