Mesoscopic modelling of electronic textiles for reliability

关键词： electronic textile failure mesoscopic modelling

作者: Ron H.J.Peerlings Lars A.A.Beex Edward S.C.de Boer Cyriel W.Verberne Koen van Os Marc G.D.Geers

作者单位: Eindhoven University of Technology,Eindhoven,The Netherlands Philips Research,Eindhoven,The Netherlands

会议类型: 国际会议

会议名称: 第13届国际断裂大会(ICF2013)

会议地点: 北京

会议语种:英文

页码: 1-1

在线出版日期: 2013-06-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）