Spiral and croissant cracks in drying thin films

关键词： pattern delamination thin films fracture path interfacial crack

作者: Joel Marthelot Benoit Roman Jose Bico Jeremie Teisseire Davy Dalmas Francisco Melo

作者单位: PMMH,ESPCI ParisTech,Paris,France SVI,CNRS Saint-Gobain,Aubervilliers SMAT,USACH,Santiago,Chile

会议类型: 国际会议

会议名称: 第13届国际断裂大会(ICF2013)

会议地点: 北京

会议语种:英文

页码: 1-1

在线出版日期: 2013-06-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）