Towards atomic resolution electron tomography

作者: D.Van Dyck S.Van Aert M Croitoru

作者单位: University of Antwerp,Department of Physics,2020 Antwerp,Belgium

会议类型: 国际会议

会议名称: The 12th Beijing Conference and Exhibition on Instrumental Analysis (第十二届北京分析测试学术报告会(BCEIA 2007))

会议地点: 北京

会议语种:英文

页码: 1-2

在线出版日期: 2007-10-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）