Automated sample enrichment and high sensitivity analysis of DMPK samples using HPLC-Chip QQQ MS

作者: Stephan Buckenmaier Georges L Gauthier Rob Solazzo Martin Vollmer

作者单位: Agilent Technologies,Waldbronn Germany

会议类型: 国际会议

会议名称: The 12th Beijing Conference and Exhibition on Instrumental Analysis (第十二届北京分析测试学术报告会(BCEIA 2007))

会议地点: 北京

会议语种:英文

页码: 1-1

在线出版日期: 2007-10-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）