Cell to Module Loss Study of Conventional c-Si Cells

作者: Dong Hou Bona He Shuangyan Xu

作者单位: Solar Technology Center, Applied Materials, Inc, No 28 Xinxi Rd, Xian Hi-Tech Development Zone, Xian 710119, China

会议类型: 国际会议

会议名称: The 22nd International Photovoltaic Science and Engineering Conference (第22届国际光伏科学与工程会议)

会议地点: 杭州

会议语种:英文

页码: 1-1

在线出版日期: 2012-11-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）