Amplitude-Sen itive Interferometric Ellip ometer on TN-LCD Optical Parameter Measurement

摘要：

This research pr p ses an amplitude –sensitive heter dyne interfer metric ellips meter t determine TN LC cell parameters precisely based n single wavelength at n rmal incidence.The advantage is the capability f tw dimensi nal distributi n measurement using CCD camera.

作者: H.C.Wei C.C.Tsai C.Chou

作者单位: Institute f Bi ph t nics,Nati nal Yang Ming University,Taipei,Taiwan 112

会议类型: 国际会议

会议名称: 2007年亚洲光纤通讯与光电博览会及研讨会(Asla Optical Fiber Communication & Optoelectronic Exposition & Conference)

会议地点: 上海

会议语种:英文

在线出版日期: 2007-10-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）