Quantitative EELS analysis of buried interfaces and nano-objects

作者: GU Hui

作者单位: State Key Lab of High Performance Ceramics and Superfine Macrostructures, Shanghai Institute of Ceramics,Chinese Academy of Sciences, Shanghai 200050 China

会议类型: 国际会议

会议名称: Third China-Japan Joint Seminar on Atomic Level Characterization(第三届中日原子级别表征学术研讨会)

会议地点: 厦门

会议语种:英文

页码: 22-23

在线出版日期: 2006-03-06（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）