Spatial distribution maps for atom probe tomography

作者: B. P. Geiser J. Schneir J. Roberts S. Wiener D. J. Larson T. F. Kelly

作者单位: Imago Scientific Instruments Corporation, 6300 Enterprise Lane, Madison, WI 53719-1193 USA

会议类型: 国际会议

会议名称: 19Th International Vacuum Nanoelectronics Conference & 50th International Field Emission Symposium(第19届真空微纳国际年会暨第50届场致发射国际会议)

会议地点: 桂林

会议语种:英文

页码: 21-22

在线出版日期: 2006-07-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）