Atom probe data mining

作者: M.K. Miller

作者单位: Microscopy, Microanalysis and Microstructures Group, Materials Science and Technology Division, Oak Ridge National Laboratory, PO Box 2008, Oak Ridge, TN 37831-6136

会议类型: 国际会议

会议名称: 19Th International Vacuum Nanoelectronics Conference & 50th International Field Emission Symposium(第19届真空微纳国际年会暨第50届场致发射国际会议)

会议地点: 桂林

会议语种:英文

页码: 23-24

在线出版日期: 2006-07-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）