会议专题

Scanning atom-probe analysis of carbon-based materials

Osamu Nishikawa Masahiro Taniguchi

Dept. of Chemistry and Biology, Kanazawa Institute of Technology 7-1 Ohgigaoka, Nonoichi 921-8501 JAPAN

国际会议

19Th International Vacuum Nanoelectronics Conference & 50th International Field Emission Symposium(第19届真空微纳国际年会暨第50届场致发射国际会议)

桂林

英文

67-68

2006-07-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)