The dualbeam (FIB/SEM) and its applications-nanoscale sample preparation and Modification

作者: Paul Lawrence

作者单位: FEI Company of USA (S.E.A) Pte Ltd Pacific Tech Centre, Singapore

会议类型: 国际会议

会议名称: 19Th International Vacuum Nanoelectronics Conference & 50th International Field Emission Symposium(第19届真空微纳国际年会暨第50届场致发射国际会议)

会议地点: 桂林

会议语种:英文

页码: 127-128

在线出版日期: 2006-07-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）