Atom probe specimen fabrication methods using a dual FIB/SEM

作者: D.W. Saxey J. M. Cairney D. McGrouther S. P. Ringer

作者单位: Australian Key Centre for Microscopy & Microanalysis, University of Sydney, Sydney, NSW 2006, Austra Electron Microscope Unit, University of New South Wales, Sydney, NSW 2052, Australia

会议类型: 国际会议

会议名称: 19Th International Vacuum Nanoelectronics Conference & 50th International Field Emission Symposium(第19届真空微纳国际年会暨第50届场致发射国际会议)

会议地点: 桂林

会议语种:英文

页码: 145-146

在线出版日期: 2006-07-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）