会议专题

Atom probe specimen preparation with a dual beam FIB miller

M.K. Miller K.F. Russell

Materials Science and Technology Division,Oak Ridge National Laboratory, PO Box 2008, Oak Ridge, TN 37831-6136

国际会议

19Th International Vacuum Nanoelectronics Conference & 50th International Field Emission Symposium(第19届真空微纳国际年会暨第50届场致发射国际会议)

桂林

英文

147-148

2006-07-17(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)