Work function measurement of modified tungsten surface by use of Photoemission Electron Microscope

作者: Y. Nakano K. Yamane H. Nakane H. Adachi

作者单位: Department of Electrical and Electronic Engineering, Muroran Institute of Technology. 27-1 Mizumoto-cho, Muroran, 050-8585, JAPAN

会议类型: 国际会议

会议名称: 19Th International Vacuum Nanoelectronics Conference & 50th International Field Emission Symposium(第19届真空微纳国际年会暨第50届场致发射国际会议)

会议地点: 桂林

会议语种:英文

页码: 233-234

在线出版日期: 2006-07-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）