Atom probe tomography characterization of a gas atomized metallic glass

作者: M.K Miller S. Venkataraman J. Eckert L. Schultz D. Sordelet

作者单位: Materials Science and Technology Division, Oak Ridge National Laboratory, P. O. Box 2008, Oak Ridge, FG Physikalische Metallkunde, FB 11, Material-und Geowissenschaften, Technische Universit(a)t Darmst FG Physikalische Metallkunde, FB 11, Material-und Geowissenschaften, Technische Universit(a)t Darmst Institut für Metallische Werkstoffe, Leibniz-institut für Festk(o)rper-und Werkstoffforschung Dresde Materials and Engineering Physics Program, Ames Laboratory (USDOE), Iowa State University, Ames, IA

会议类型: 国际会议

会议名称: 19Th International Vacuum Nanoelectronics Conference & 50th International Field Emission Symposium(第19届真空微纳国际年会暨第50届场致发射国际会议)

会议地点: 桂林

会议语种:英文

页码: 499-500

在线出版日期: 2006-07-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）