Smoother shank profile for atom probe specimens prepared by the multi-step focused ion beam milling

作者: S. Pinitsoontorn A. Cerezo A. K. Petford-Long

作者单位: Department of Materials, University of Oxford, Parks Road Oxford OX1 3PH, UK

会议类型: 国际会议

会议名称: 19Th International Vacuum Nanoelectronics Conference & 50th International Field Emission Symposium(第19届真空微纳国际年会暨第50届场致发射国际会议)

会议地点: 桂林

会议语种:英文

页码: 525-526

在线出版日期: 2006-07-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）