New tomographic atom probe at University of Muenster, Germany

作者: Patrick Stender Guido Schmitz

作者单位: Institute of material physics, Westf. Wilhelms-Universit(a)t Münster, Wilhelm-Klemm-Str.10, D-48149 Münster, Germany

会议类型: 国际会议

会议名称: 19Th International Vacuum Nanoelectronics Conference & 50th International Field Emission Symposium(第19届真空微纳国际年会暨第50届场致发射国际会议)

会议地点: 桂林

会议语种:英文

页码: 539-540

在线出版日期: 2006-07-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）