On-Line Damage Diagnosing Method Based on Wavelet Analysis and Genetic Algorithm

会议类型: 国际会议

会议名称: the 2006 International Symposium on Safety Science and Technology(2006安全科学与技术国际会议)

会议地点: 上海

会议语种:英文

页码: 309-313

在线出版日期: 2006-10-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）