DETERMINATION OF IMPURITIES IN SILICON CARBIDE BY SLURRY INTRODUCTION AXIAL VIEWED INDUCTIVELY COUPLED PLASMA OPTICAL EMISSION SPECTROMETRY

会议类型: 国际会议

会议名称: The 11th International Beijing Conference and Exhibition on Instrumental Analysis(第十一届北京分析测试学术报告会)（BCEIA 2005）

会议地点: 北京

会议语种:英文

在线出版日期: 2005-10-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）