Importance sampling for NMF class of STAP detectors

会议类型: 国际会议

会议名称: 2006 CIE International Conference on Radar(2006年雷达国际会议)

会议地点: 上海

会议语种:英文

页码: 1367-1370

在线出版日期: 2006-10-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）