会议专题

Application of μC/OS-Ⅱ in Cable Creep Test System

国际会议

第一届国际测试自动化与测量仪器学术会议(the First International Symposium on Test Automation & Instrumentation)

北京

英文

1453-1456

2006-09-13(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)