A BAYES APPROACH OF RELIABILITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC PRODUCTS

会议类型: 国际会议

会议名称: 第四届国际质量与可靠性会议（The 4th Internaional Conference on Quality&Reliability(ICQR2005)）

会议地点: 北京

会议语种:英文

页码: 535-540

在线出版日期: 2005-08-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）