The Influence of Residue on Space Charge Accumulation in Purposely Modified Thick Plaque XLPE Sample for DC Application

会议类型: 国际会议

会议名称: the XIVth International Symposium on High Voltage Engineering(第14届高电压国际会议)

会议地点: 北京

会议语种:英文

在线出版日期: 2005-08-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）