Test Methodology for Embedded System-On-Chip (Soc) with Mixed-Signal and Analog Cores

会议类型: 国际会议

会议名称: The Eighth World Conference on Integrated Design and Process Technology

会议地点: 北京

会议语种:英文

在线出版日期: 2005-06-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）