外层非欠蚀短路原因分析及改善

摘要：

随着AOI(自动光学检查机)技术的普及,外层图转产生的断、短路在AOI都可拦截,所以通断测试检出的断、短路基本为内层或导通孔的缺陷,但近期通断测试找点时,连续突发批量外层短路,且过程无异常.文章从人、机、物、法、环入手,找出外层短路的突发原因,并实施改善.

关键词： 印制电路板 外层短路 自动光学检查机 通断测试

作者: 赵宇

作者单位: 天津普林电路股份有限公司,天津300308

会议类型: 国内会议

会议名称: 2017中日电子电路秋季大会暨秋季国际PCB技术/信息论坛

会议地点: 广东东莞

会议语种:中文

页码: 196-203

在线出版日期: 2017-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）