线纹计量中的对准技术

摘要：

介绍了线纹对准技术的发展以及典型线的纹对准技术及方法,分析各种线纹对准的技术特点及其适用范围.刻线种类的多样性决定了对准方法的多样性,线纹计量的对准技术的发展朝着多元化方向发展.对一些新型特殊的线纹测量器具(微密线纹测量和宽线单边对准测量),介绍了基于光电扫描的对准测量方法.线纹光电自动对准技术可以拓展应用到其它非线纹一维几何参量的计量.

关键词： 长度测量 线纹尺 自动对准 光电扫描

作者: 高宏堂 孙双花 沈雪萍 魏冰莹

作者单位: 中国计量科学研究院,北京100029;北京航空航天大学,北京100191 中国计量科学研究院,北京100029 北京市机电产品标准质量监测中心,北京100027

会议类型: 国内会议

会议名称: 2017全国几何量精密测量技术学术交流会

会议地点: 甘肃酒泉

会议语种:中文

页码: 6-12

在线出版日期: 2017-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）