会议专题

TOFD检测扫查面盲区的讨论

在超声衍射时差法(TOFD)检测过程中,减小焊缝上下表面盲区是提高检测质量的关键.对TOFD检测中扫查面盲区进行试验和探讨,通过优化仪器硬件软件功能以及组合其他检测手段(常规A超、超声相控阵、磁粉检测等)来尽量减小盲区,更好地提高TOFD检测质量.

焊接工艺 质量检测 扫查面盲区 超声衍射时差法

沈威 刘毅勇

航天晨光股份有限公司化工机械分公司,江苏南京 211200

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2017-11-10(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)