TOFD检测扫查面盲区的讨论

摘要：

在超声衍射时差法(TOFD)检测过程中,减小焊缝上下表面盲区是提高检测质量的关键.对TOFD检测中扫查面盲区进行试验和探讨,通过优化仪器硬件软件功能以及组合其他检测手段(常规A超、超声相控阵、磁粉检测等)来尽量减小盲区,更好地提高TOFD检测质量.

关键词： 焊接工艺 质量检测 扫查面盲区 超声衍射时差法

作者: 沈威 刘毅勇

作者单位: 航天晨光股份有限公司化工机械分公司,江苏南京 211200

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国压力容器学术会议

会议地点: 合肥

会议语种:中文

页码: 1112-1116

在线出版日期: 2017-11-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）