针对面阵线曝光载荷的几何校正技术

摘要：

某型号微纳卫星采用了线曝光成像方式的面阵传感器,导致在拍摄过程中图像产生扭曲.针对上述问题,本文设计了一种几何校正方法.首先,根据卫星平台运行参数和传感器曝光相移特性,应用透视变换关系,建立几何校正模型,并采用双线性插值实现图像的几何校正.最后在生成的卫星图像仿真数据中进行了实验,实验结果表明,该几何校正方法可以有效解决面阵线曝光传感器的成像方式带来的图像畸变问题.该方法运算量小,可移植到嵌入式硬件平台中,实现在轨的遥感数据处理,从而实现直接下传可用的遥感图像.

关键词： 微纳卫星 线曝光成像 面阵传感器 几何校正 透视变换 双线性插值

作者: 王莉 马钟

作者单位: 西安微电子技术研究所,西安 710065

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国宇航学会先进小卫星技术与应用专业委员会第一届学术交流会暨第四届小卫星技术交流会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 276-281

在线出版日期: 2017-07-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）